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可編程高低溫箱的使用方法

更新時間:2023-06-21  |  點擊率:404
可(ke)編程高(gao)低溫箱模擬了自然環境(jing)中的(de)高溫(wen)和低(di)溫(wen),主(zhu)要用(yong)于(yu)(yu)電工、電子產品(pin)及其元件和其他(ta)材料(liao)在高溫(wen)、低(di)溫(wen)綜合(he)環境(jing)中輸送(song)、使(shi)用(yong)的(de)適應(ying)性(xing)試(shi)(shi)驗(yan)。適用(yong)于(yu)(yu)產品(pin)的(de)設計(ji)、改良、鑒定、檢驗(yan)等過程。所(suo)以可編程高低(di)溫(wen)試(shi)(shi)驗(yan)箱在實際工作中被廣泛(fan)應(ying)用(yong)。其使(shi)用(yong)縮短了人們對某些產品(pin)性(xing)能(neng)的(de)測試(shi)(shi)時間。

(1)歸一化處理

將試驗樣品統一歸納放置(zhi)到正常的試驗氣體當中,直到超出相(xiang)應的溫度穩定后(hou)。

(2)初(chu)始檢測

可(ke)編程高(gao)低溫箱破壞(huai)性環境試(shi)驗(yan)箱試(shi)驗(yan)試(shi)驗(yan)整個過程:

1、將要求的試(shi)驗(yan)(yan)樣(yang)(yang)品(pin)放(fang)到試(shi)驗(yan)(yan)箱內,并將環境試(shi)驗(yan)(yan)箱(室)內溫度(du)升到70,保持1h或者直至試(shi)驗(yan)(yan)樣(yang)(yang)品(pin)超出溫度(du)穩定(ding),以(yi)時(shi)間長都(dou)算(suan)起。

2、高溫(wen)階(jie)段結束后(hou),在5min內(nei)將試驗樣(yang)(yang)品轉換(huan)到(dao)已調節(jie)到(dao)-55的低溫(wen)試驗箱(室(shi))內(nei),保持1h或者直至試驗樣(yang)(yang)品超出(chu)溫(wen)度穩定(ding),以時間長(chang)都算起(qi)。

3、低溫(wen)階段結束后,在5min內將(jiang)試(shi)驗樣品轉換(huan)到已調節到70的可編(bian)程高低溫(wen)箱(xiang)(室)內,保持1h或者直至試(shi)驗樣品超出溫(wen)度穩(wen)定,以(yi)時間長都算起(qi)。

4、不(bu)斷上(shang)述實驗(yan)方法,開展3個(ge)循環(huan)周期。(注:對(dui)大的或重的試(shi)(shi)驗(yan)樣品,從1個(ge)環(huan)境(jing)(jing)試(shi)(shi)驗(yan)箱轉換到此外環(huan)境(jing)(jing)試(shi)(shi)驗(yan)箱的轉換時(shi)間,由有(you)關標(biao)準或相關文本(ben)文檔(dang)規定)。

5、試驗(yan)結束后是將被測試驗(yan)樣品恢復

試驗(yan)樣品(pin)從試驗(yan)箱內取出后,應在一切正常的試驗(yan)氣體規(gui)范下進(jin)行(xing)恢(hui)復,直至試驗(yan)樣品(pin)超出溫度穩定。